2011/07/08 CX打ち合わせ ########################################################### 原子: 田沼、大橋、石田、島谷 宇宙: 赤松、榎(文責)、木村 ########################################################### 次回 : 要相談 ########################################################### - 石田 • PGT社SDD検出器のpolymer windowの透過率を発光断面積を用いて計算  →O7+ 1s-2p 574 eV で約14%の透過率 • 修理に出していたSi(Li)検出器が戻ってきたので,55Feを用いてMn Kaを測定  →以前に比べてchannel(エネルギー)の低い値の位置にピークが観測された(channelで 2100→800) →O7+-CH4衝突においても同様の事象が確認できた  原因:素子の表面に不感層がある orSi結晶中へ均一にドリフトさせたLiイオンが一部動いて  しまい,表面付近に空乏層でない部分を形成    →その分,空乏層が薄くなっている    →素子交換 • O7+-He,CH4の1電子捕獲電荷移行断面積を測定 - 榎 • 前回報告した内容をwikiに載せた。 • 磁場測定のためのホール素子及びガウスメーターを宇宙研から借りている。